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                  EN
                  首頁(yè) 解決方案 測試認證

                  電氣測試

                  一站式電氣類(lèi)檢測服務(wù)
                  電氣測試是指是按照相關(guān)的技術(shù)標準和規范,對產(chǎn)品的無(wú)線(xiàn)射頻、OTA&SAR、用戶(hù)界面、攝像頭模組、基帶電路和電源管理及散熱測試等相關(guān)參數進(jìn)行系統檢測,以保證產(chǎn)品安全可靠運行。
                   
                  實(shí)驗室配置有R&S射頻一致性測試系統、 ETS-Lindgren8600 PLUS暗室測試系統等一系列行業(yè)頂尖測試儀器儀表,可以提供消費電子類(lèi)產(chǎn)品(如手機、筆記本電腦)、智能家居等一站式電氣類(lèi)檢測服務(wù)。
                  射頻實(shí)驗室
                  天線(xiàn)實(shí)驗室
                  用戶(hù)界面實(shí)驗室
                  基帶實(shí)驗室
                  電源管理及散熱實(shí)驗室
                  射頻實(shí)驗室

                  射頻實(shí)驗室配備業(yè)內先進(jìn)的R&S TS8980PRE-2A 、Agilent GS8800 、R&S TS8955GW等多套射頻一致性測試系統和R&S CMW500綜合測試儀、FSQ26頻譜分析儀、GSS6700綜合測試儀、SMBV綜合測試儀等高端專(zhuān)業(yè)測試儀器?;谧灾鏖_(kāi)發(fā)的自動(dòng)化測試軟件,提供覆蓋如下功能及性能研發(fā)預測試、產(chǎn)線(xiàn)自動(dòng)化測試和CE/FCC/CTA等多種認證測試服務(wù):

                   

                  GSM/CDMA/TD-SCDMA/EVDO/WCDMA/LTE/LTE CA等蜂窩類(lèi)

                  GPS/Beidou/GLONASS等導航類(lèi)

                  WiFi:IEEE 802.11b/g/a/n/ac

                  Bluetooth:BT2.0、BT2.1、BT3.0、BT4.0、 BT4.1、 BT4.2、 BT5.0

                  FM

                  射頻測試覆蓋標準范圍
                  ETSI TS 151 010-1、ETSI EN 301 511、eCFR47 Part22/24/27 for GSM
                  ETSI TS 134 121-1、ETSI EN 301 908-2、 eCFR47 Part22/24/27 for WCDMA
                  ETSI TS 134 122-1 for TD-SCDMA
                  ETSI TS 136 521-1、 ETSI EN 301 908-13 、eCFR47 Part22/24/27 for LTE
                  BT SIG PHY RF Spec、ETSI EN 300 328、eCFR47 Part15C for BT
                  IEEE 802.11、ETSI EN 300 328、ETSI EN 301 893、eCFR47 Part15C/E for WIFI
                  天線(xiàn)實(shí)驗室OTA LAB
                  OTA  Lab配備1套業(yè)界先進(jìn)的ETS-Lindgren8600 Plus暗室測試系統和人頭/人手模型(CTIA 3.7法規),覆蓋GSM  / CDMA/ WCDMA/ TD-SCDMA/WIFI/LTE/LTE CA/GPS等多制式類(lèi)型電子產(chǎn)品。此系統完全滿(mǎn)足CTIA規范及3GPP/Vodafone等的要求,可完成TRP/TIS/Radiation Pattern/Gain等天線(xiàn)的自由空間和人體頭部和手部模型的3D性能參數預認證測試。
                  ETS-Lindgren8600+規格:
                  Fully Anechoic Chamber
                  - 15m×4.9m×5.2m
                  Path Length: 5m
                  Shielding Effectiveness<100dB
                  (450MHz~10GHz)
                  測試項目 Testing Items :
                  - Free Space
                  - Talking Position
                  - BHHL and BHHR
                  - HL and HR
                  Test Items:
                  - TRP or EIRP
                  - TIS or Sensitivity
                  - Gain
                  - Radiation Pattern
                  ETS – Lindgren Antenna Test System
                  天線(xiàn)實(shí)驗室---高性能錐形射頻屏蔽電波暗室
                  ETS – Lindgren Antenna Test System222
                  天線(xiàn)實(shí)驗室---高性能錐形射頻屏蔽電波暗室222
                    
                  天線(xiàn)實(shí)驗室SAR LAB

                  SAR實(shí)驗室配備有引進(jìn)自瑞士SPEAG的DASY52 SAR測試系統,覆蓋各制式手機終端、數據卡、無(wú)線(xiàn)路由器等電子產(chǎn)品的比吸收率測試 。該測試系統完全符合FCC、CE、CTA等SAR標準要求,具有快速、準確、安全高效等特點(diǎn),也是目前國際頂尖實(shí)驗室采用最多、并被廣泛認可的SAR測試系統。 該系統測試頻率范圍達到6GHz,能有效滿(mǎn)足產(chǎn)品的預認證測試。

                   

                  HAC(Hearing Aids Compatibility)主要是針對無(wú)線(xiàn)通信產(chǎn)品對助聽(tīng)器及心臟輔助器的影響進(jìn)行兼容性檢測,滿(mǎn)足ANSI C63.19-2011規范的測試能力。

                  測試能力Testing Capability
                  涵蓋全球各手機/平板/筆記本電腦等通信制式,包括:
                  GSM 850/900/1800/1900 (GPRS/EDGE)
                  CDMA 2000
                  TD-SCDMA
                  IEEE 802.11 a/b/g/n/ac (Wifi)
                  LTE-FDD/TDD
                  符合世界各通信機構所采用的測試標準,包括:
                  China  -  YD/T 1644.1-2007
                  FCC -  OET 65C/ IEEE1528-2003 /ANSI C63.19
                  CE -  EN50360/ EN62209-1/-2
                  IEC 62209-1/-2
                  SAR Test System_ Dasy 5
                  比吸收率測試系統
                  天線(xiàn)實(shí)驗室HAC &T-COIL

                  HAC(Hearing Aids Compatibility),測試手機對助聽(tīng)器的電磁干擾,以防止助聽(tīng)器在無(wú)線(xiàn)設備的電磁環(huán)境中出現不允許的降級。

                   

                  參考測試標準: ANSI C63.19-2011

                  測試無(wú)線(xiàn)通信設備對助聽(tīng)器的干擾信號種類(lèi)分為兩部分:
                  1. 射頻部分 RF-HAC:

                  RF-E 射頻電場(chǎng)

                  RF-H 射頻磁場(chǎng)

                  2. 音頻部分T-Coil :

                  ABM1 音頻信號的磁場(chǎng)

                  ABM2音頻噪聲的磁場(chǎng)

                  用戶(hù)界面實(shí)驗室

                  實(shí)驗室搭建有兩個(gè)專(zhuān)業(yè)光學(xué)測試暗室,擁有行業(yè)高端的專(zhuān)業(yè)測試設備,包括TOPCON 色溫照度計BM-7、KONICA MINOLTA色度照度計CS-200、圖像亮度色度計LumiCam1300等先進(jìn)的LCD光學(xué)測試設備和分辨率/灰階/白平衡/畸變等測試卡、GretagMacbeth 標準光源對色燈箱 SPL III、色溫照度計 CL-200等專(zhuān)業(yè)的Camera測試設備。同時(shí)實(shí)驗室還配備LeCroy 串行數據分析儀SDA11000、 Tektronix 7104 數字示波器等電學(xué)測試設備。

                  主要提供如下測試服務(wù)
                  LCD光學(xué)測試
                  主要包含亮度、對比度、色坐標、白點(diǎn)坐標、Gamma曲線(xiàn)、NTSC、以及LCD主觀(guān)測試項
                  Camera測試
                  主要包含分辨率、像面亮度均勻性、灰階、色彩還原、白平衡、信噪比、畸變、視場(chǎng)角、閃光燈亮度均勻性、低照度色彩還原、低照度信噪比以及Camera主觀(guān)光學(xué)測試
                  電學(xué)測試
                  主要包含LCD抗干擾性、LCD電學(xué)接口性能、LED driver、Camera電學(xué)性能以及幀率測試
                  配備設備
                  LCD/LED 電學(xué)測試系統
                  LCD/LED 電學(xué)測試系統2
                  Camera 光學(xué)測試系統
                  基帶實(shí)驗室
                  實(shí)驗室擁有R&S CMW500綜合測試儀、 FLIR A40紅外熱像儀、 WEISS溫箱、 Agilent34970A數據采集儀等高精準度專(zhuān)業(yè)測試儀器,配合基于Labview、VEE等編程語(yǔ)言自主開(kāi)發(fā)的自動(dòng)化測試程序。
                  主要提供電子產(chǎn)品如下測試服務(wù)
                  USB實(shí)驗室
                  主要測試電源管理芯片的充電效率、電壓紋波、電
                  壓范圍、電壓穩定性等關(guān)鍵參數。測試結果需滿(mǎn)足
                  電源管理芯片spec和產(chǎn)品設計要求
                  Mip測試
                  針對產(chǎn)品在各種大功耗應用場(chǎng)景工作模式,測試產(chǎn)品表面或PCB板上關(guān)鍵元器件的溫升情況。最大溫度或ΔT需滿(mǎn)足企標、產(chǎn)品設計要求和元器件spec
                  Lan口測試
                  測試產(chǎn)品在各種模式下(如待機、通話(huà)、上傳下載、視頻、MP3等應用)消耗的電流。平均電流、底電流、最大電流需滿(mǎn)足產(chǎn)品設計要求
                  配備設備
                  基帶測試系統
                  Tektronix 7104數字示波器
                  充電&放電測試系統
                  電源管理及散熱實(shí)驗室
                  實(shí)驗室擁有R&S CMW500綜合測試儀、 FLIR A40紅外熱像儀、 WEISS溫箱、 Agilent34970A數據采集儀等高精準度專(zhuān)業(yè)測試儀器,配合基于Labview、VEE等編程語(yǔ)言自主開(kāi)發(fā)的自動(dòng)化測試程序。
                  主要提供電子產(chǎn)品如下測試服務(wù)
                  電源管理芯片功能及性能測試
                  主要測試電源管理芯片的充電效率、電壓紋波、電
                  壓范圍、電壓穩定性等關(guān)鍵參數。測試結果需滿(mǎn)足
                  電源管理芯片spec和產(chǎn)品設計要求
                  溫升測試
                  針對產(chǎn)品在各種大功耗應用場(chǎng)景工作模式,測試產(chǎn)品表面或PCB板上關(guān)鍵元器件的溫升情況。最大溫度或ΔT需滿(mǎn)足企標、產(chǎn)品設計要求和元器件spec
                  功耗測試
                  測試產(chǎn)品在各種模式下(如待機、通話(huà)、上傳下載、視頻、MP3等應用)消耗的電流。平均電流、底電流、最大電流需滿(mǎn)足產(chǎn)品設計要求
                  充電&放電測試
                  在室溫、高溫、低溫環(huán)境下,監測產(chǎn)品在完整充電過(guò)程中的充電電壓、充電電流、充電時(shí)間等參數。測試結果需滿(mǎn)足產(chǎn)品設計要求,充電過(guò)程無(wú)中斷,以0.2C放電容量不低于95%額定容量
                  配備設備
                  散熱測試系統
                  充電&放電測試系統
                  功耗測試系統
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